Échantillonnage de précision à l'échelle nanométrique avec FIB-SEM à double faisceau : applications de la nanomanipulation dans la recherche sur les semi-conducteurs et la recherche biomédicale

Pourquoi l'échantillonnage précis à l'échelle nanométrique est important

Dans des domaines de pointe comme la science des matériaux, les sciences de la vie et la recherche sur les semi-conducteurs, un échantillonnage de précision à l'échelle nanométrique est souvent indispensable pour obtenir des résultats significatifs. Qu'il s'agisse d'extraire un site de défaillance spécifique d'une puce semi-conductrice ou d'isoler des organites d'une cellule unique, les méthodes d'échantillonnage conventionnelles sont souvent insuffisantes, manquant de la résolution, de la précision et du contrôle environnemental nécessaires à une analyse haute sensibilité.

C'est ici que les avancées FIB-SEM (microscopie électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés) systèmes entrent en jeu, en particulier ceux équipés d'un nanomanipulateur intégré . Parmi ceux-ci, le CIQTEK SEM DB550 à double faisceau se distingue par son imagerie haute résolution, sa précision de manipulation au niveau du picomètre et son intégration transparente des outils de préparation, de prélèvement et d'analyse des échantillons.

Comment le CIQTEK DB550 améliore la manipulation des échantillons à l'échelle nanométrique

1. Imagerie MEB haute résolution pour l'identification du site cible

La colonne d'électrons à émission de champ du CIQTEK FIB-SEM DB550 offre une clarté d'image exceptionnelle, atteignant une résolution allant jusqu'à 0,9 nm à 15 kV, idéale pour la résolution de microstructures complexes. Cette capacité MEB haute résolution permet aux chercheurs de naviguer visuellement sur des surfaces complexes et de localiser précisément les zones d'intérêt, qu'il s'agisse de particules nanométriques dans un composite, d'organites au sein de cellules ou de défauts structurels dans des nœuds avancés de la cellule. analyse des défaillances des semi-conducteurs .

2. Nanomanipulateur intégré pour une précision de l'ordre du picomètre

Le nanomanipulateur intégré au DB550 offre un contrôle 3D avec une précision de positionnement à l'échelle du picomètre, ce qui le rend idéal pour préparation d'échantillons spécifiques au site Il permet aux chercheurs d'approcher, de saisir et de soulever des micro- et nano-éléments avec un contrôle remarquable. Par exemple, le nanomanipulateur peut extraire délicatement un nanofil spécifique d'un réseau dense ou isoler une zone membranaire dans des échantillons biologiques, tout en minimisant les contraintes mécaniques.

Cette fonctionnalité est particulièrement utile pour les flux de travail tels que :

• Extraction d'échantillons TEM à partir de dispositifs semi-conducteurs
• Nano-sondage pour les tests électriques
• Isolement d'échantillons pour l'omique unicellulaire

3. Maximiser l'intégrité de l'échantillon pendant le transfert

L'un des défis de l'échantillonnage à l'échelle nanométrique est de préserver la structure et la chimie d'origine de l'échantillon. Le DB550 répond à ce défi grâce à :

• Contrôle dynamique de la force, empêchant la déformation ou la rupture lors de la manipulation
• Protocoles de vide et anti-contamination de qualité salle blanche, protégeant l'échantillon de l'exposition environnementale

Cela garantit une nano-extraction à faible dommage, ce qui est essentiel pour l'analyse EDS (spectroscopie à rayons X à dispersion d'énergie), EBSD ou TEM en aval.

4. Flux de travail fluide avec fonctionnalité double faisceau

La synergie du faisceau d'ions focalisés et du faisceau d'électrons dans le DB550 permet un pipeline d'échantillonnage et d'analyse complet :

• Fraisage FIB peut prétraiter le site d'échantillonnage et éliminer les contaminants de surface ou creuser des tranchées
• Nanomanipulateur puis soulève la section précise
• Analyse SEM ou EDS in situ peut être exécuté immédiatement pour une vérification en temps réel

Ce plateforme unique de manipulation à l'échelle nanométrique améliore considérablement l'efficacité tout en préservant la fidélité des données.

Pourquoi le CIQTEK DB550 est idéal pour la nanomanipulation avancée

Indépendance technologique : les technologies de base propriétaires de CIQTEK offrent des performances comparables à celles des plus grandes marques mondiales, à un prix plus compétitif

Intégration du flux de travail : du fraisage par faisceau d'ions focalisés au prélèvement d'échantillons, le DB550 prend en charge la manipulation et l'imagerie in situ, réduisant ainsi le besoin de systèmes externes

Conception centrée sur l'utilisateur : un logiciel entièrement localisé, une navigation intuitive et des options d'automatisation améliorent l'accessibilité pour les utilisateurs nouveaux et expérimentés

Que vous prépariez des lamelles spécifiques à un site pour la microscopie électronique en transmission (MET), isoliez des caractéristiques de tissus biologiques ou réalisiez des nanomanipulations complexes en microscopie électronique, le DB550 offre une solution puissante et polyvalente. Ce n'est pas seulement un outil. C'est un écosystème d'échantillonnage à l'échelle nanométrique conçu pour maintenir vos recherches à la pointe de la technologie.

Découvrez comment le CIQTEK DB550 FIB-SEM à double faisceau peut optimiser vos flux de travail de nano-ingénierie : du levage précis à l'extraction propre des échantillons et à l'analyse en temps réel.