Pour accompagner le déploiement, l'équipe d'ingénierie de CIQTEK a dispensé une formation complète sur site à l'équipe de JH Technologies. Celle-ci comprenait un fonctionnement détaillé du système, des démonstrations d'applications et des discussions techniques adaptées à des cas d'utilisation réels. Cette collaboration a renforcé les capacités de l'équipe de JH à présenter et à soutenir les instruments CIQTEK.
Suite à la livraison, JH Technologies a organisé une
Journée portes ouvertes
Dans ses locaux de Fremont, des démonstrations en direct des deux systèmes ont été proposées. L'événement a attiré une forte participation de professionnels du monde universitaire et industriel, suscitant un vif intérêt et des retours positifs. Fort de ce succès, JH Technologies prévoit d'organiser prochainement d'autres journées portes ouvertes afin de promouvoir davantage les solutions d'imagerie avancées de CIQTEK.
Technologie d'imagerie éprouvée pour les applications exigeantes
Le
SEM3300
Combinant une source à filament de tungstène traditionnelle et une optique moderne, il offre des performances haute résolution à faibles tensions d'accélération. Il offre une solution puissante et accessible pour l'analyse et la recherche de routine.
Le
SEM5000X
Offre une imagerie ultra-haute résolution et des fonctionnalités d'automatisation avancées, ce qui le rend idéal pour la science des matériaux, l'inspection des semi-conducteurs et la recherche en nanotechnologie. Les deux systèmes offrent des interfaces utilisateur intuitives et des options de configuration flexibles pour répondre aux besoins variés des applications.
Regard vers l'avenir
La collaboration de CIQTEK avec JH Technologies reflète une vision commune : fournir des instruments SEM de classe mondiale, s'appuyant sur une solide expertise locale. En alliant performance, convivialité et accessibilité, CIQTEK gagne rapidement en popularité auprès des utilisateurs américains des secteurs de la recherche, de la fabrication et de l'enseignement.
Aleks Zhang, directeur adjoint du groupe d'activités internationales de CIQTEK, a déclaré : « Nous sommes fiers de voir nos instruments SEM entre les mains d'un partenaire aussi professionnel et compétent. Le marché américain est en pleine expansion et nous nous engageons à renforcer notre soutien à nos clients locaux grâce à une étroite collaboration avec des distributeurs comme JH Technologies. »
Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.
Ultra haute résolution Microscope électronique à balayage à filament de tungstène Le CIQTEK SEM3300 Microscope électronique à balayage (MEB) Il intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », les détecteurs d'électrons intégrés à la lentille et les objectifs composés électrostatiques et électromagnétiques. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution historique de ce type de microscope est dépassée, permettant ainsi à ce dernier d'effectuer des analyses basse tension auparavant réservées aux microscopes à émission de champ.