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Échantillonnage de précision à l'échelle nanométrique avec FIB-SEM à double faisceau : applications de la nanomanipulation dans la recherche sur les semi-conducteurs et la recherche biomédicale

Jun 30 , 2025

Pourquoi l'échantillonnage précis à l'échelle nanométrique est important Dans des domaines de pointe comme la science des matériaux, les sciences de la vie et la recherche sur les semi-conducteurs, un échantillonnage de précision à l'échelle nanométrique est souvent indispensable pour obtenir des résultats significatifs. Qu'il s'agisse d'extraire un site de défaillance spécifique d'une puce semi-c...

Mots clés : FIB-SEM pour l'extraction d'échantillons Analyse FIB SEM haute résolution MEB à double faisceau pour l'analyse des nanostructures
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