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CIQTEK a franchi une nouvelle étape importante en Europe avec l'installation du Microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) SEM4000Pro au Salle d'exposition de démonstration SYNERGIE4 dans France . La nouvelle configuration permet aux chercheurs et aux utilisateurs industriels en Europe de découvrir imagerie haute résolution, performances analytiques et facilité d'utilisation Le CIQTEK SEM4000Pro offre une qualité d'image exceptionnelle pour l'observation fine des microstructures et prend en charge un large éventail d'applications en science des matériaux, en microélectronique et en R&D. SYNERGIE4 est le distributeur et prestataire français de CIQTEK pour ses solutions avancées de microscopie et de microanalyse. Forte d'une solide expérience en microscopie électronique et en instruments d'analyse, SYNERGIE4 accompagne les universités, les instituts de recherche et les laboratoires industriels dans toute la France avec des solutions sur mesure, une expertise technique et des formations. Désormais, le centre de démonstration de SYNERGIE4 dispose d'un CIQTEK SEM4000Pro entièrement opérationnel, offrant des démonstrations pratiques aux visiteurs pour explorer ses capacités d'imagerie, son interface logicielle intuitive et sa polyvalence dans divers domaines de recherche. « La présence du CIQTEK SEM4000Pro dans notre showroom nous permet de présenter ses performances d'imagerie directement à nos clients », a déclaré un représentant de SYNERGIE4. « C'est un excellent ajout à nos installations de démonstration et une étape importante dans l'élargissement de notre gamme de produits de microscopie. » Le SEM4000Pro étant désormais disponible en France, les utilisateurs européens peuvent évaluer directement ses performances, grâce à l'expertise locale et aux services de démonstration technique de SYNERGIE4. Cette collaboration marque une étape importante dans les efforts continus de CIQTEK pour améliorer l'accessibilité aux technologies avancées de microscopie électronique dans toute l'Europe .

À mesure que la fabrication de semi-conducteurs progresse vers des nœuds de processus plus fins, l'analyse des défauts au niveau de la plaquette, la localisation des défaillances et la fabrication micro-nano sont devenues essentielles pour améliorer le rendement. CIQTEK présente le Solution de traitement pleine grandeur à double faisceau pour plaquettes de 8 pouces , combinant une imagerie haute résolution et un traitement précis par faisceau d'ions pour réaliser une « observation-analyse-découpe » sur l'ensemble de la plaquette, offrant un support technique solide pour les processus avancés de semi-conducteurs. Cette solution est équipée d'une platine porte-échantillon haute précision à grande course de 150 mm, permettant l'observation et le traitement non destructifs de wafers entiers de 8 pouces. Grâce à un système de navigation optique externe et à des algorithmes anticollision intelligents, elle garantit un positionnement rapide et précis des wafers et un fonctionnement sûr. Le système est équipé d'un canon à électrons à émission de champ Schottky, offrant une résolution de 0,9 nm à 15 kV et une résolution de faisceau d'ions de 3 nm à 30 kV, permettant la détection de défauts, le découpage de sections transversales et la fabrication de microstructures à l'échelle nanométrique. Principaux avantages : Étage de déplacement de 150 mm : Combine une longue course avec une haute précision pour une plage d'observation étendue. Excellente compatibilité avec des luminaires de différentes tailles. La structure robuste assure la stabilité des plaquettes et un chargement rapide et fiable. Échange rapide de 8 pouces : Conception intelligente de support de poids avec une base coulissante pour plus de stabilité et de durabilité. Compatibilité pleine taille : prend en charge les plaquettes de 2/4/6/8 pouces. Échange rapide d'échantillons : pompage sous vide et chargement d'échantillons en une minute. Logiciel et anti-collision : Navigation intelligente entièrement automatique avec mouvement et positionnement précis. Mouvement coordonné multi-axes pour l'observation de la plaquette entière. Anti-collision intelligente : Simulation de trajectoire et calculs spatiaux algorithmiques pour éviter les risques. Surveillance multiple en temps réel : Surveillance multi-angle en temps réel de la position de la plaquette. Navigation optique externe : La conception de la structure ultra-stable supprime les tremblements de l'image. Imagerie haute définition avec un champ de vision précis pour un affichage sur toute la plaquette. L'éclairage antireflet professionnel réduit la réflexion de la surface des plaquettes. Plage d'observation des plaquettes Solution de microscope électronique à double faisceau CIQTEK combine un matériel exceptionnel avec des systèmes logiciels intelligents, permettant une détection efficace des défauts et une optimisation des processus grâce au réglage de la luminosité et du contraste en un clic, à la mise au point automatique et à la sortie d'ima...

Dans les sciences de la vie, la réalisation d’analyses structurelles et dynamiques 3D de haute précision et à grande échelle d’échantillons biologiques tels que des cellules et des tissus est devenue essentielle pour surmonter les goulots d’étranglement de la recherche. CIQTEK a introduit un itinéraire multi-technologies Microscopie électronique volumétrique (MEV) solution, intégration SS-SEM, SBF-SEM et FIB-SEM . Cela fournit une plate-forme complète, performante et intelligente pour la reconstruction biologique 3D, aidant les chercheurs à découvrir les mystères de la vie au niveau micro. Trois itinéraires techniques avancés 01. Imagerie haute vitesse SS-SEM En combinant le sectionnement sériel externe avec le CIQTEK MEB HEM6000-Bio à grande vitesse Cette solution permet une imagerie rapide et l'acquisition automatisée d'échantillons volumineux. L'efficacité d'acquisition des données est plus de cinq fois supérieure à celle d'un microscope électronique à balayage (MEB) conventionnel, permettant un fonctionnement à haut débit sans surveillance 24h/24 et 7j/7. 02. Coupe in situ SBF-SEM Basé sur le CIQTEK SEM5000X ultra-haute résolution Grâce à un microtome intégré, cette approche permet des cycles de coupe et d'imagerie in situ. Elle offre une utilisation simple, une automatisation poussée et évite efficacement la contamination de surface. 03. FIB-SEM Analyse de haute précision Grâce à des systèmes à double faisceau focalisé d'ions et d'électrons, cette méthode offre une résolution nanométrique sur l'axe Z pour analyser des structures fines telles que les organites et les membranes. Elle permet une reconstruction 3D in situ sans découpage physique. Intégration intelligente et applications étendues La solution CIQTEK VEM s'intègre en profondeur algorithmes d'IA et une plateforme logicielle multilingue , prenant en charge un flux de travail complet, de l'acquisition des données à la visualisation 3D, en passant par l'alignement et la segmentation des images. Compatible avec les logiciels de reconstruction courants, il réduit considérablement la courbe d'apprentissage. Les cas d’application couvrent les neurosciences, la biologie cellulaire et la microbiologie pathogène, offrant un outil puissant pour faire progresser la recherche en sciences de la vie.

La recherche sur le comportement microscopique des matériaux entre dans une nouvelle ère couplage multi-scénarios et caractérisation dynamique in situ . CIQTEK a lancé une solution innovante Solution de test mécanique in situ , conçu avec une ouverture et une compatibilité exceptionnelles. Il permet une intégration transparente de la gamme complète de CIQTEK microscopes électroniques avec des dispositifs de test in situ courants, offrant une plate-forme flexible et efficace pour l'analyse couplée dans divers scénarios de recherche. Brisant les limites des systèmes fermés, la solution intègre tous les éléments critiques nécessaires à EM in situ adaptabilité, avec : Courant de faisceau élevé : >100 nA, idéal pour une analyse EDS/EBSD rapide Grand espace : 360 × 310 × 288 mm (L × l × H) Capacité de charge élevée : 5 kg (jusqu'à 10 kg avec des fixations personnalisées) CCD multi-vues : assurer la sécurité du système pendant l'exploitation in situ Interfaces multiples : supportant des accessoires de bride personnalisés Pré-acceptation : débogage complet des accessoires avant la livraison, garantissant une fonctionnalité complète sans problèmes d'installation sur site La solution peut être configurée sur La gamme complète de produits de microscopie électronique de CIQTEK , y compris CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , Systèmes à double faisceau DB550 , et bien plus encore. Il offre également une compatibilité parfaite avec les platines de traction, les platines de chauffage, les nanoindenteurs et les stations de travail électrochimiques des principaux fournisseurs mondiaux. Cette architecture ouverte permet aux chercheurs de combiner avec souplesse les équipements les plus adaptés, optimisant ainsi les performances expérimentales. La solution de scène in situ de CIQTEK aidé les clients à publier un papier à fort impact (DOI : 10.1126/science.adq6807). Solution mécanique in situ de CIQTEK Il prend également en charge le couplage multi-champs (mécanique, thermique, électrochimique), permettant l'observation en temps réel à l'échelle nanométrique des matériaux dans des environnements complexes. En synchronisant l'imagerie haute résolution avec les signaux in situ, les chercheurs peuvent capturer avec précision des phénomènes critiques tels que la propagation des fissures, les transitions de phase et les réactions interfaciales. Avec une plage de températures de -170 à 1200 °C, un contrôle de charge avancé et des systèmes de réponse rapide, il simule avec précision les conditions de service des matériaux dans divers secteurs industriels. Associé aux EBSD et EDS, il fournit des ensembles de données complets pour comprendre le comportement des matériaux sous des stimuli couplés. Postulé avec succès dans matériaux aérospatiaux, nouveaux dispositifs énergétiques et matériaux biomédicaux , cette solution démontre la compatibilité et l'évolutivité exceptionnelles de CIQTEK d

Microscopie électronique à transmission à balayage quadridimensionnel (4D-STEM) La microscopie électronique est l'une des avancées les plus innovantes. En effectuant un balayage bidimensionnel de la surface de l'échantillon tout en enregistrant un diagramme de diffraction complet à chaque point de balayage grâce à un détecteur pixellisé, 4D-STEM génère un jeu de données quadridimensionnel contenant des informations en espace réel et en espace réciproque. Cette technique s'affranchit des limites de la microscopie électronique conventionnelle, qui ne collecte généralement qu'un seul signal de diffusion. Elle capture et analyse désormais l'intégralité du spectre des interactions électron-échantillon. Grâce à 4D-STEM, les chercheurs peuvent exploiter de multiples fonctionnalités avancées au sein d'une même expérience, notamment l'imagerie virtuelle, la cartographie de l'orientation et de la contrainte des cristaux, l'analyse de la distribution des champs électrique et magnétique (contraste de phase différentiel), et même la reconstruction à résolution atomique par empilement par diffraction. Elle élargit considérablement la dimensionnalité et la profondeur de la caractérisation des matériaux, offrant ainsi un outil sans précédent pour la recherche en nanosciences et sur les matériaux. Lors de la Conférence nationale chinoise sur la microscopie électronique 2025 (26-30 septembre, Wuhan), CIQTEK publie son Solution 4D-STEM , conçu pour briser les limites de l'imagerie traditionnelle et fournir des données avec une dimensionnalité et une puissance analytique inégalées. Flux de travail du système Le Solution CIQTEK 4D-STEM caractéristiques haute résolution spatiale, analyse multidimensionnelle, fonctionnement à faible dose pour minimiser les dommages du faisceau et un traitement flexible des données , fournissant aux chercheurs des méthodes fiables et exceptionnelles pour l’analyse avancée des matériaux.

Dans les domaines de la recherche sur les performances des matériaux à haute température et de l'analyse des mécanismes de transition de phase, les méthodes traditionnelles de chauffage externe ne parviennent souvent pas à combiner un contrôle précis de la température des microrégions avec une observation en temps réel. CIQTEK , en collaboration avec le Centre Micro-Nano de l'Université des Sciences et Technologies de Chine, a développé une solution innovante solution de puce chauffante in situ En intégrant des puces chauffantes MEMS à des microscopes électroniques à double faisceau, cette solution permet un contrôle précis de la température (de la température ambiante à 1100°C) et une analyse microdynamique des échantillons, offrant un nouvel outil pour étudier le comportement des matériaux dans des environnements à haute température. Cette solution utilise le MEB à double faisceau CIQTEK et puces de chauffage MEMS spécialisées , avec une précision de contrôle de température supérieure à 0,1 °C et une résolution de température supérieure à 0,1 °C. Le système présente également une excellente uniformité de température et un faible rayonnement infrarouge, garantissant une analyse stable à haute température. Il prend en charge diverses techniques de caractérisation pendant le chauffage, notamment l'observation de la morphologie des microrégions, l'analyse de l'orientation cristalline par EBSD et l'analyse de la composition par EDS. Cela permet une compréhension complète des transitions de phase, de l'évolution des contraintes et de la migration de la composition sous l'effet des effets thermiques. Le système fonctionne sans rompre le vide, répondant ainsi à toutes les exigences du processus de préparation et de caractérisation des échantillons (EBSD de micro-région in situ). Le flux de travail intégré couvre l'ensemble du processus, de la préparation des échantillons (traitement par faisceau ionique, extraction par nanomanipulateur) aux essais de soudage et de chauffage in situ. Le système prend en charge les opérations multi-angles, avec une puce chauffante à 45° et une grille en cuivre positionnée à 36°, répondant ainsi aux exigences expérimentales complexes. Le système a été appliqué avec succès dans la recherche sur les performances à haute température des alliages, des céramiques et des semi-conducteurs, aidant les utilisateurs à acquérir des connaissances plus approfondies sur les réponses des matériaux dans des environnements réels. 26-30 septembre, Wuhan | Conférence nationale chinoise 2025 sur la microscopie électronique Les huit principales solutions de microscopie électronique de CIQTEK seront présentées !

CIQTEK a présenté sa nouvelle génération Plaquette de 12 pouces microscope électronique à balayage (MEB) solution Conçue pour répondre aux exigences des procédés de fabrication avancés de semi-conducteurs, cette solution innovante permet une inspection complète de la plaquette sans rotation ni inclinaison et garantit une analyse non destructive haute résolution pour soutenir le développement des procédés critiques. Equipé d'un scène de voyage ultra-large (X/Y ≥ 300 mm), le système assure une couverture complète des plaquettes de 12 pouces, éliminant ainsi le besoin de découpe ou de transfert d'échantillons. Ceci garantit une observation fidèle de la taille et de la position d'origine. Avec un Canon à électrons à émission de champ Schottky , il atteint une résolution de 1,0 nm à 15 kV et 1,5 nm à 1 kV, minimisant les dommages causés par le faisceau d'électrons, ce qui le rend idéal pour les matériaux et structures sensibles. Caractéristiques principales inclure: Scène de voyage ultra-large (X/Y > 300 mm) pour l'inspection complète des plaquettes Imagerie haute résolution : 1,0 nm à 15 kV et 1,5 nm à 1 kV Chargement automatisé et système de navigation optique pour un échange rapide des plaquettes et un positionnement précis Logiciel intelligent pour la mise au point automatique, la correction de l'astigmatisme et la sortie d'image multiformat Le microscope électronique à balayage (MEB) d'inspection de plaquettes de 12 pouces de CIQTEK est plus qu'un simple outil d'observation ; c'est un instrument essentiel permettant d'obtenir des rendements plus élevés et des nœuds plus petits dans la fabrication de semi-conducteurs. 26-30 septembre, Wuhan CIQTEK dévoilera huit solutions de microscopie électronique de pointe au Conférence nationale chinoise sur la microscopie électronique 2025 !

Dans les domaines des sciences de la vie, de la biomédecine, de l'inspection alimentaire et de la recherche sur la matière molle, l'imagerie haute résolution d'échantillons hydratés et sensibles aux faisceaux a toujours constitué un défi majeur. Les méthodes conventionnelles de préparation des échantillons, telles que la fixation chimique, la déshydratation et le séchage, entraînent souvent des rétrécissements, des déformations ou des dommages structurels, ce qui conduit à des résultats déviants de l'état réel de l'échantillon. Tirant parti de ses avancées microscopie électronique à balayage technologie, CIQTEK a introduit le Solution Cryo-SEM , qui intègre la congélation à basse température et le transfert sous vide. Cela permet une observation microscopique in situ, non destructive et haute fidélité d'échantillons biologiques et sensibles, « figant » véritablement les détails microscopiques de la vie. Grâce à la technologie de congélation rapide par barbotine d'azote liquide, les échantillons peuvent être vitrifiés instantanément à -210 °C, préservant ainsi au maximum leur morphologie et leur composition chimique d'origine. Le système de cryopréparation intégré combine la cryofracture, le revêtement par sublimation et le transfert à basse température, évitant ainsi la complexité et les erreurs potentielles d'une préparation manuelle classique. Tout au long du processus, les échantillons sont maintenus sous vide cryogénique et transférés vers la cryo-étage du MEB, où l'imagerie haute résolution à -180 °C supprime efficacement les dommages causés par le faisceau d'électrons et améliore significativement la qualité de l'image. Feuille de buis cryopréparée montrant des structures nervurées intactes , tandis que l'échantillon non traité présente un retrait important. Yaourt Moule Un échantillon de yaourt préparé par cryogénisation révèle clairement des réseaux de protéines et des hyphes fongiques. De plus, le système offre une forte compatibilité, adaptable à tous les environnements. La gamme complète de SEM de CIQTEK et systèmes FIBSEM à double faisceau , répondant à des besoins divers allant de l'observation de routine à l'analyse avancée. Le Solution CIQTEK Cryo-SEM Plus qu'un simple ensemble d'instruments, il incarne une approche scientifique visant à restituer fidèlement le monde microscopique. Il permet aux chercheurs de surmonter les limites techniques, de capturer des détails essentiels à l'échelle microscopique du vivant et de propulser la recherche fondamentale et le développement appliqué vers de nouveaux sommets. 26-30 septembre, Wuhan Au Conférence académique chinoise sur la microscopie électronique 2025 , CIQTEK dévoilera huit solutions EM de pointe . Restez à l'écoute!